Browse

Publisher

Jump to a point in the index
Or type in a year
  • Sort by
  • In order
  • Results/Page
  • Authors/record

Showing results 1 to 10 of 10

Issue DateTitle / Author(s) / CitationFileAltmetrics
2005-04

Yi, Gyu-Chul; Wang, Chunrui; Park, Won Il

Semicond. Sci. Technol. 20 522

DOI
2006-05DOI
2007-02DOI
2007-07DOI
2017

Lee, Weonjong

Journal of Physics: Conference Series, Vol.800 No.1, p. 012006

DOI
2019-09DOI
2020-07

Park, Jinha; Kahng, B.

Journal of Statistical Mechanics: Theory and Experiment, Vol.2020 No.7, p. 073407

DOI
2021-08

Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Day, E.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Koros, J.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovstsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Ward, E. M.; Wiseman, C.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -R.; Yoo, J.; Yu, C. -H.; Zettlemoyer, J.

Journal of Instrumentation, Vol.16 No.8, p. P08048

DOI
2022-03

D. Akimov; P. An; C. Awe; P.S. Barbeau; B. Becker; V. Belov; I. Bernardi; M.A. Blackston; C. Bock; A. Bolozdynya; J. Browning; B. Cabrera-Palmer; D. Chernyak; E. Conley; J. Daughhetee; J. Detwiler; K. Ding; M.R. Durand; Y. Efremenko; S.R. Elliott; L. Fabris; M. Febbraro; A. Gallo Rosso; A. Galindo-Uribarri; M.P. Green; M.R. Heath; S. Hedges; D. Hoang; M. Hughes; T. Johnson; A. Khromov; A. Konovalov; E. Kozlova; A. Kumpan; L. Li; J.M. Link; J. Liu; K. Mann; D.M. Markoff; J. Mastroberti; P.E. Mueller; J. Newby; D.S. Parno; S.I. Penttila; D. Pershey; R. Rapp; H. Ray; J. Raybern; O. Razuvaeva; D. Reyna; G.C. Rich; J. Ross; D. Rudik; J. Runge; D.J. Salvat; A.M. Salyapongse; K. Scholberg; A. Shakirov; G. Simakov; G. Sinev; W.M. Snow; V. Sosnovstsev; B. Suh; R. Tayloe; K. Tellez-Giron-Flores; I. Tolstukhin; E. Ujah; J. Vanderwerp; R.L. Varner; C.J. Virtue; G. Visser; T. Wongjirad; Y.-R. Yen; J. Yoo; C.-H. Yu; J. Zettlemoyer; B.A. Johnson

Journal of Instrumentation, Vol.17 No.3, p. P03021

DOI
2022-10

Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bock, C.; Bolozdynya, A.; Browning, J.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Melikyan, Y. A.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -r.; Yoo, Jonghee; Yu, C. -h.; Zettlemoyer, J.; COHERENT Collaboration, C. O. H. E. R. E. N. T. Collaboration

Journal of Instrumentation, Vol.17 No.10, p. P10034

DOI
1