2005-04 | | DOI | |
2006-05 | | DOI | |
2007-02 | | DOI | |
2007-07 | Chang, G S; Kurmaev, E Z; Jung, S W; Kim, H J; Yi, Gyu-Chul; Lee, S-I; Yablonskikh, M V; Pedersen, T M; Moewes, A; Finkelstein, L D J. Phys.: Condens. Matter 19 276210 | DOI | |
2017 | Lee, Weonjong Journal of Physics: Conference Series, Vol.800 No.1, p. 012006 | DOI | |
2019-09 | Park, J. S.; Kim, S. Y.; Rott, C.; Lee, D. H.; Jung, D.; Suekane, F.; Furuta, H.; Jang, H. I.; Jeon, H. K.; Yu, I.; Choi, J. H.; Jang, J. S.; Joo, K. K.; Ju, K. W.; Pac, M.; Gwak, P. J.; Kim, S. B.; Hasegawa, S.; Jeon, S. H.; Maruyama, T.; Ujiie, R.; Hino, Y.; Park, Y. S. Journal of Instrumentation, Vol.14 No.9, p. T09010 | DOI | |
2020-07 | Park, Jinha; Kahng, B. Journal of Statistical Mechanics: Theory and Experiment, Vol.2020 No.7, p. 073407 | DOI | |
2021-08 | Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Day, E.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Koros, J.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovstsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Ward, E. M.; Wiseman, C.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -R.; Yoo, J.; Yu, C. -H.; Zettlemoyer, J. Journal of Instrumentation, Vol.16 No.8, p. P08048 | DOI | |
2022-03 | | DOI | |
2022-10 | Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bock, C.; Bolozdynya, A.; Browning, J.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Melikyan, Y. A.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -r.; Yoo, Jonghee; Yu, C. -h.; Zettlemoyer, J.; COHERENT Collaboration, C. O. H. E. R. E. N. T. Collaboration Journal of Instrumentation, Vol.17 No.10, p. P10034 | DOI | |