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Study on cell characteristic variations of three-dimensional stacked NAND flash memories : 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리에서의 셀 특성 변화 연구
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- Authors
- Advisor
- 이종호
- Major
- 전기. 컴퓨터공학부
- Issue Date
- 2011-08
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 전하 트랩형 메모리 ; SONOS ; TANOS ; 게이트로 둘러싸인 ; 문턱 전압 이하 기울기 ; Charge Trap Flash (CTF) memory ; Gate-All-Around ; subthreshold slope (SS)
- Description
- 학위논문 (석사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 이종호.
- Language
- eng
- URI
- https://hdl.handle.net/10371/159644
http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031696
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