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VisNIR 투과 스펙트럼을 이용한 후지 사과의 내부결함판정 기술 개발 : Development of an internal defect discrimination technology of Fuji apple using VisNIR transmittance spectra data
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- Authors
- Advisor
- 노상하
- Issue Date
- 2008
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 후지사과 ; Fuji apple ; 내부 갈변 ; Internal Defects ; 광특성 ; Optic properties ; 판별모델 ; Discrimination model
- Description
- 학위논문(박사)--서울대학교 대학원 :바이오시스템·소재학부(바이오시스템공학),2008. 8.
- Language
- Korean
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