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Incident angle dependence of artifacts in apertureless near-field optical microscopy : 비 구경 근접장 광학 현미경에서 비 광학적 이미지의 입사 각도 의존성
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- Authors
- Advisor
- 제원호
- Issue Date
- 2009
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 비 광학적 신호 ; artifacts ; 입사각 ; incident angle ; 후방 산란형 ; backscattering-type ; 비 구경 ; apertureless ; 근접장 광학 현미경 ; scanningnear-field optical microscopy
- Description
- Thesis(masters) --서울대학교 대학원 :물리천문학부, 2009.2.
- Language
- English
- URI
- http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000036613
https://hdl.handle.net/10371/66236
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