Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Day, E.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Koros, J.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovstsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Ward, E. M.; Wiseman, C.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -R.; Yoo, J.; Yu, C. -H.; Zettlemoyer, J.
Journal of Instrumentation, Vol.16 No.8, p. P08048