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Characterization and optimization of charge trapping behaviors for non-volatile memory (NVM) device : 비휘발성 메모리에 적용되는 전하 트래핑 거동의 특성 측정 및 최적화 연구
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | 박병국 | - |
dc.contributor.author | 이동화 | - |
dc.date.accessioned | 2019-07-10T04:20:30Z | - |
dc.date.available | 2019-07-10T04:20:30Z | - |
dc.date.issued | 2011-08 | - |
dc.identifier.other | 000000031088 | - |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/159064 | - |
dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031088 | ko_KR |
dc.description | 학위논문 (박사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 박병국. | - |
dc.format.extent | v, 121장 | - |
dc.language.iso | eng | - |
dc.publisher | 서울대학교 대학원 | - |
dc.subject | SONOS 플래시 메모리 | - |
dc.subject | ONO 층 두께 | - |
dc.subject | ONO 캡 | - |
dc.subject | 전하 트래핑 거동 | - |
dc.subject | 터널 장벽 | - |
dc.subject | 전하 저장막 | - |
dc.subject | 성능 최적화 | - |
dc.subject | 프로그램 | - |
dc.subject | 지우기 특성 | - |
dc.subject | 메모리 윈도우 | - |
dc.subject | 전하 유지 특성 | - |
dc.subject | SONOS flash memory | - |
dc.subject | ONO multilayer capacitor | - |
dc.subject | charge trapping behaviors | - |
dc.subject | modulated tunnel barrier | - |
dc.subject | modulated charge storage layer | - |
dc.subject | performance optimization | - |
dc.subject | program | - |
dc.subject | erase characteristics | - |
dc.subject | memory window | - |
dc.subject | data retention | - |
dc.title | Characterization and optimization of charge trapping behaviors for non-volatile memory (NVM) device | - |
dc.title.alternative | 비휘발성 메모리에 적용되는 전하 트래핑 거동의 특성 측정 및 최적화 연구 | - |
dc.type | Thesis | - |
dc.type | Dissertation | - |
dc.description.degree | Doctor | - |
dc.contributor.affiliation | 전기. 컴퓨터공학부 | - |
dc.date.awarded | 2011-08 | - |
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