Investigation of reliability and gas Sensing properties in back-gated germanium nanowire FET

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Investigation of reliability and gas Sensing properties in back-gated germanium nanowire FET : Back-gated Ge 나노와이어 FET 소자에서의 신뢰도 및 센서 응용을 위한 가스 반응 연구

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	이종호	-
dc.contributor.author	유성원	-
dc.date.accessioned	2019-07-10T05:23:51Z	-
dc.date.available	2019-07-10T05:23:51Z	-
dc.date.issued	2011-08	-
dc.identifier.other	000000031693	-
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/10371/159645	-
dc.identifier.uri	http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031693	ko_KR
dc.description	학위논문 (석사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 이종호.	-
dc.format.extent	44장	-
dc.language.iso	eng	-
dc.publisher	서울대학교 대학원	-
dc.subject	Ge 나노와이어	-
dc.subject	신뢰도	-
dc.subject	가스 센서	-
dc.subject	게이트 바이어스 및 온도 스트레스	-
dc.subject	화학물질 및 수분의 반응에 의한 전기적 특성 변화	-
dc.subject	Ge nanowire	-
dc.subject	reliability	-
dc.subject	gas sensor	-
dc.subject	gate bias and temperature stress	-
dc.subject	electrical characteristics change by reaction to chemical substances and water	-
dc.title	Investigation of reliability and gas Sensing properties in back-gated germanium nanowire FET	-
dc.title.alternative	Back-gated Ge 나노와이어 FET 소자에서의 신뢰도 및 센서 응용을 위한 가스 반응 연구	-
dc.type	Thesis	-
dc.type	Dissertation	-
dc.description.degree	Master	-
dc.contributor.affiliation	전기. 컴퓨터공학부	-
dc.date.awarded	2011-08	-

Appears in Collections:: College of Engineering/Engineering Practice School (공과대학/대학원)Dept. of Electrical and Computer Engineering (전기·정보공학부)Theses (Master's Degree_전기·정보공학부)

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