Wavelet을 활용한 중첩 IMU 고장 진단 기법

Abstract

고장검출 및 분리기법은 대상 시스템의 계층에 따라 시스템 수준의 고장 진단기법과 국소적 하위 시스템 수준의 고장 진단기법으로 분류될 수 있다. 시스템 수준의 고장 진단기법은 서로 다른 센서들의 출력에 기반하기 때문에 안전성과 강건성을 보장하지 못해 여러 단점을 가지고 있다. 같은 종류의 센서라 할지라도 온도, 압력, 탑재위치 등과 같은 환경조건에 따라서 고유한 특성이 나타나며 사용자에 따라 동종 센서에 관하여 서로 다른 다양한 수학적 모델링 또하나 가능하다. 그러한 수학적 모델을 변화하는 환경조건하에서 적용하기도 힘든 것이 사실이다. 따라서 최근에는 국소적 하위 수준의 기법, 즉 센서 신호에 기반한 ILM(In-Line Monitoring) 기법이 고장 진단을 위해 연구되고 있다. 이러한 하위 시스템 수준의 고장 진단기법들은 어떠한 외부의 도움이 없이 가공되지 않은 센서의 출력을 이용한다는 장점을 가지고 있다.