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EUV absorber로 사용되는 TaN 막질의 식각특성 및 TaN 패턴 측벽각도가 EUVL에 미치는 영향

DC Field Value Language
dc.contributor.advisor문상흡-
dc.contributor.author장일용-
dc.date.accessioned2009-11-18T05:45:28Z-
dc.date.available2009-11-18T05:45:28Z-
dc.date.copyright2008.-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.urihttp://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000039721kor
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10371/13100-
dc.description학위논문(석사) --서울대학교 대학원 :화학생물공학부,2008.2.kor
dc.format.extentvi, 70 장kor
dc.language.isoko-
dc.publisher서울대학교 대학원kor
dc.subjectEUVLkor
dc.subjectEUVLkor
dc.subject마스크kor
dc.subjectmaskkor
dc.subjectabsorberkor
dc.subjectabsorberkor
dc.subjectTaNkor
dc.subjectTaNkor
dc.subject플라즈마kor
dc.subjectPlasmakor
dc.subject패러데이 상자kor
dc.subjectFaraday cagekor
dc.subject전산모사kor
dc.subjectSimulationkor
dc.titleEUV absorber로 사용되는 TaN 막질의 식각특성 및 TaN 패턴 측벽각도가 EUVL에 미치는 영향kor
dc.typeThesis-
dc.contributor.department화학생물공학부-
dc.description.degreeMasterkor
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