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Study on uni-directional vertical current in metal-insulator-oxide semiconductor structures : 금속-절연체-산화물반도체 적층 구조에서 발생하는 단방향 수직 전류에 대한 연구

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dc.contributor.advisor김연상-
dc.contributor.authorJinwon Lee-
dc.date.accessioned2018-11-12T01:00:44Z-
dc.date.available2019-11-28T06:45:05Z-
dc.date.issued2018-08-
dc.identifier.other000000152376-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10371/143294-
dc.description학위논문 (박사)-- 서울대학교 대학원 : 융합과학기술대학원 융합과학부(나노융합전공), 2018. 8. 김연상.-
dc.description.abstract전기적 전류가 절연체 박막을 통해 흐를 수 있게 하는 기술은 다이오드나 저항성 스위칭 소자와 같은 차세대 소자들에서 새롭게 주목 받고 있다. 하지만, 이러한 소자들에서 전류 흐름은 전극 제한 전도 이론 (electrode-limited conduction mechanisms)을 따르기 때문에 절연체의 두께가 매우 얇아야 한다는 공정 제약 사항이 있고 전류의 크기나 방향을 조절하기 어렵다는 단점이 있다. 이 논문에서는 상대적으로 두꺼운 절연체 막을 통해서 전기 전하들이 안정적으로 흐를 수 있는 새로운 접근 기술을 소개한다. 이는 절연막 내에 존재하는 결함 위치들 (trap sites)과 중첩되는 전극의 면적을 조절하거나, 다양한 증착법을 통해 절연막 내의 결함 농도를 조절하는 전략으로 달성하였다. 그리고 금속 / 절연막 / 금속 구조에서 상부 전극을 산화물 반도체 물질로 변경하여 전류의 크기와 극성을 정교하게 제어하였다. 또한 이 때 흐르는 전류는 외부 전극으로부터 주입되는 전하에 의존하는 공간 전하 제한 전도 이론 (space charge-limited conduction mechanism)을 따른다는 것을 입증하였다. 따라서, 수직 전류의 크기나 외부 신호를 정류하는 정류비는 산화물 반도체 전극의 전기적 특성에 따라 정교하게 제어할 수 있다는 점이 증명되었다. 이러한 수직 전류를 나타내는 소자는 기존의 다이오드처럼 동작함이 확인되었고, 다양한 전자 회로에서 다이오드가 하는 역할을 대체할 수 있는 가능성을 확인하였다. 금속 / 절연막 / 산화물 반도체 구조에서 발견한 이 특이한 수직 전류 현상은 재료과학이나 전자공학 분야에 활용될 수 있는 다양한 잠재력을 지니고 있다고 기대된다.-
dc.description.tableofcontentsChapter.1 Introduction 1

1.1 Conduction in dielectrics 1

1.2 Devices utilizing current through a dielectric film 7

1.3 Role of thin-film diodes as ESD protection component 9

1.4 References 12

Chapter.2 Unconventional electrical vertical current characteristics in metal / insulator / oxide semiconductor structure 15

2.1 Overview 15

2.2 Unconventional vertical current in MIM and MIOS structure 18

2.3 Approach to transporting path of electrons through an insulator film 26

2.4 Exploring the films and interface quality 29

2.5 Conduction mechanism of the unconventional vertical current 32

2.6 Verification of the conduction mechanism of the vertical current 39

2.7 Effect of electrical properties of the top semiconductor electrode on the vertical current behavior 49

2.8 Conclusion 57

2.9 Experimental details 58

2.10 References 61

Chapter.3 Influence of uni-directional gate current on the performance of oxide thin-film transistors 66

3.1 Overview 66

3.2 Interference of abnormal gate current to oxide TFT performance 68

3.3 Flowing direction of each current in the oxide TFTs 73

3.4 Origins of the uni-directional gate current in the oxide TFT 76

3.5 Investigation the vertical current phenomena through AlOX dielectric films 78

3.6 Electrical charge states at the interface of the SiO2 80

3.7 Influence of the structural parameters of TFT on the gate current 83

3.8 Demonstration of gate current path as an ESD diode component 86

3.9 Conclusion 89

3.10 Experimental details 90

3.11 References 92

Chapter.4 Directional characteristics of vertical electrical current in oxide multilayer thin-film devices 95

4.1 Overview 95

4.2 Directional characteristics of vertical currents in MIOSIM structures 97

4.3 Analyses of the junction interfaces 100

4.4 Repetitively changed directions of vertical current in multiple junctions 102

4.5 Discussion 105

4.6 Experimental details 106

4.7 References 108

Chapter.5 Conclusion 110

초 록 (국 문) 113
-
dc.language.isoen-
dc.publisher서울대학교 대학원-
dc.subject.ddc620.5-
dc.titleStudy on uni-directional vertical current in metal-insulator-oxide semiconductor structures-
dc.title.alternative금속-절연체-산화물반도체 적층 구조에서 발생하는 단방향 수직 전류에 대한 연구-
dc.typeThesis-
dc.contributor.AlternativeAuthor이진원-
dc.description.degreeDoctor-
dc.contributor.affiliation융합과학기술대학원 융합과학부(나노융합전공)-
dc.date.awarded2018-08-
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