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전자 에너지 손실 분광법과 제1원리 계산을 통한 HfO₂Si₁-xGex 계면에서의 Ge의 거동에 따른 유전 상수 측정 및 전자 구조에 관한 연구
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | 김미영 | - |
dc.contributor.author | 장지영 | - |
dc.date.accessioned | 2009-11-25T03:34:11Z | - |
dc.date.available | 2009-11-25T03:34:11Z | - |
dc.date.copyright | 2008. | - |
dc.date.issued | 2008 | - |
dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000041125 | kor |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/15139 | - |
dc.description | 학위논문(석사) --서울대학교 대학원 :재료공학부,2008.2. | kor |
dc.format.extent | v, 47 장 | kor |
dc.language.iso | ko | - |
dc.publisher | 서울대학교 대학원 | kor |
dc.subject | EELS | kor |
dc.subject | EELS | kor |
dc.subject | 유전 상수 | kor |
dc.subject | dielectric constant | kor |
dc.subject | 제 1원리 계산 | kor |
dc.subject | first principle | kor |
dc.title | 전자 에너지 손실 분광법과 제1원리 계산을 통한 HfO₂Si₁-xGex 계면에서의 Ge의 거동에 따른 유전 상수 측정 및 전자 구조에 관한 연구 | kor |
dc.type | Thesis | - |
dc.contributor.department | 재료공학부 | - |
dc.description.degree | Master | kor |
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