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전자 에너지 손실 분광법과 제1원리 계산을 통한 HfO₂Si₁-xGex 계면에서의 Ge의 거동에 따른 유전 상수 측정 및 전자 구조에 관한 연구

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dc.contributor.advisor김미영-
dc.contributor.author장지영-
dc.date.accessioned2009-11-25T03:34:11Z-
dc.date.available2009-11-25T03:34:11Z-
dc.date.copyright2008.-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.urihttp://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000041125kor
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10371/15139-
dc.description학위논문(석사) --서울대학교 대학원 :재료공학부,2008.2.kor
dc.format.extentv, 47 장kor
dc.language.isoko-
dc.publisher서울대학교 대학원kor
dc.subjectEELSkor
dc.subjectEELSkor
dc.subject유전 상수kor
dc.subjectdielectric constantkor
dc.subject제 1원리 계산kor
dc.subjectfirst principlekor
dc.title전자 에너지 손실 분광법과 제1원리 계산을 통한 HfO₂Si₁-xGex 계면에서의 Ge의 거동에 따른 유전 상수 측정 및 전자 구조에 관한 연구kor
dc.typeThesis-
dc.contributor.department재료공학부-
dc.description.degreeMasterkor
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