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그래픽 프로세싱 유닛을 이용한 TFT-LCD 공정에서의 결함 검사 시스템의 개발 : Development of Defect Inspection System Development of Defect Inspection System
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 박희재 | - |
| dc.contributor.author | 최순민 | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-09T16:01:33Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-09T16:01:33Z | - |
| dc.date.issued | 2011-02 | - |
| dc.identifier.other | 000000029837 | - |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/157370 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000029837 | ko_KR |
| dc.description | 학위논문 (석사)-- 서울대학교 대학원 : 기계항공공학부, 2011.2. 박희재. | - |
| dc.format.extent | vi, 26장 | - |
| dc.language.iso | kor | - |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | - |
| dc.subject | 머신 비전 | - |
| dc.subject | 결함 | - |
| dc.subject | GPU | - |
| dc.subject | 고속 푸리에 변환 | - |
| dc.subject | AOI | - |
| dc.subject | Machine Vision | - |
| dc.subject | Defect | - |
| dc.subject | Wavelet | - |
| dc.subject | Fourier Transform | - |
| dc.title | 그래픽 프로세싱 유닛을 이용한 TFT-LCD 공정에서의 결함 검사 시스템의 개발 | - |
| dc.title.alternative | Development of Defect Inspection System Development of Defect Inspection System | - |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.type | Dissertation | - |
| dc.description.degree | Master | - |
| dc.contributor.affiliation | 기계항공공학부 | - |
| dc.date.awarded | 2011-02 | - |
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