Incident angle dependence of artifacts in apertureless near-field optical microscopy

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Incident angle dependence of artifacts in apertureless near-field optical microscopy : 비 구경 근접장 광학 현미경에서 비 광학적 이미지의 입사 각도 의존성

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	제원호	-
dc.contributor.author	천우영	-
dc.date.accessioned	2010-05-14T07:39:34Z	-
dc.date.available	2010-05-14T07:39:34Z	-
dc.date.copyright	2009.	-
dc.date.issued	2009	-
dc.identifier.uri	http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000036613	eng
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/10371/66236	-
dc.description	Thesis(masters) --서울대학교 대학원 :물리천문학부, 2009.2.	en
dc.format.extent	v, 35 leaves	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	서울대학교 대학원	en
dc.subject	비 광학적 신호	en
dc.subject	artifacts	en
dc.subject	입사각	en
dc.subject	incident angle	en
dc.subject	후방 산란형	en
dc.subject	backscattering-type	en
dc.subject	비 구경	en
dc.subject	apertureless	en
dc.subject	근접장 광학 현미경	en
dc.subject	scanningnear-field optical microscopy	en
dc.title	Incident angle dependence of artifacts in apertureless near-field optical microscopy	en
dc.title.alternative	비 구경 근접장 광학 현미경에서 비 광학적 이미지의 입사 각도 의존성	en
dc.type	Thesis	-
dc.contributor.department	물리천문학부	-
dc.description.degree	Master	en

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