Ahmad, Z.; Choi, W.; Sharma, N.; Zhang, J.; Zhong, Q.; Kim, D. -Y.; Chen, Z.; Zhang, Y.; Han, R.; Shim, D.; Sankaran, S.; Seok, E. -Y.; Cao, C.; Mao, C.; Schueler, R. M.; Medvedev, I. R.; Lary, D. J.; Nam, H. -J.; Raskin, P.; DeLucia, F. C.; McMillan, J. P.; Neese, C. F.; Kim, I.; Momson, I.; Yellswarapu, P.; Dong, S.; Kim, B. -K.; O, K. K.
2016 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING (IEDM), pp.29.8.1-29.8.4