S-Space

Flay, D.; Posik, M.; Parno, D. S.; Allada, K.; Armstrong, W. R.; Averett, T.; Benmokhtar, F.; Bertozzi, W.; Camsonne, A.; Canan, M.; Cates, G. D.; Chen, C.; Chen, J. -P.; Choi, S.; Chudakov, E.; Cusanno, F.; Dalton, M. M.; Deconinck, W.; de Jager, C. W.; Deng, X.; Deur, A.; Dutta, C.; El Fassi, L.; Franklin, G. B.; Friend, M.; Gao, H.; Garibaldi, F.; Gilad, S.; Gilman, R.; Glamazdin, O.; Golge, S.; Gomez, J.; Guo, L.; Hansen, O.; Higinbotham, D. W.; Holmstrom, T.; Huang, J.; Hyde, C.; Ibrahim, H. F.; Jiang, X.; Jin, G.; Katich, J.; Kelleher, A.; Kolarkar, A.; Korsch, W.; Kumbartzki, G.; LeRose, J. J.; Lindgren, R.; Liyanage, N.; Long, E.; Lukhanin, A.; Mamyan, V.; McNulty, D.; Meziani, Z. -E.; Michaels, R.; Mihovilovic, M.; Moffit, B.; Muangma, N.; Nanda, S.; Narayan, A.; Nelyubin, V.; Norum, B.; Oh, Y.; Peng, J. C.; Qian, X.; Qiang, Y.; Rakhman, A.; Ransome, D.; Riordan, S.; Saha, A.; Sawatzky, B.; Shabestari, M. H.; Shahinyan, A.; Sirca, S.; Solvignon, P.; Subedi, R.; Sulkosky, V.; Tobias, W. A.; Troth, W.; Wang, D.; Wang, Y.; Wojtsekhowski, B.; Yan, X.; Yao, H.; Ye, Y.; Ye, Z.; Yuan, L.; Zhan, X.; Zhang, Y.; Zhang, Y. -W.; Zhao, B.; Zheng, X.; Jefferson Lab Hall A Collaboration

Physical Review d, Vol.94 No.5, p. 052003

Akimov, D.; Albert, J. B.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V; Bernardi, I; Blackston, M. A.; Blokland, L.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Chen, N.; Chernyak, D.; Conley, E.; Cooper, R. L.; Daughhetee, J.; Coello, M. del Valle; Detwiler, J. A.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Fox, W.; Galindo-Uribarri, A.; Rosso, A. Gallo; Green, M. P.; Hansen, K. S.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hughes, M.; Johnson, T.; Kaemingk, M.; Kaufman, L. J.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Librande, J. T.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; McGoldrick, O.; Moreno, H.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S.; Pershey, D.; Radford, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Thornton, R. T.; Tolstukhin, I; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Wiseman, C.; Wongjirad, T.; Yang, J.; Yen, Y-R; Yoo, J.; Yu, C-H; Zettlemoyer, J.

Physical Review Letters, Vol.126 No.1, p. 012002

Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Day, E.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Koros, J.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovstsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Ward, E. M.; Wiseman, C.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -R.; Yoo, J.; Yu, C. -H.; Zettlemoyer, J.

Journal of Instrumentation, Vol.16 No.8, p. P08048

Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bock, C.; Bolozdynya, A.; Browning, J.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Melikyan, Y. A.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -r.; Yoo, Jonghee; Yu, C. -h.; Zettlemoyer, J.; COHERENT Collaboration, C. O. H. E. R. E. N. T. Collaboration

Journal of Instrumentation, Vol.17 No.10, p. P10034