S-Space

Zhang, Y.; Abe, K.; Haga, Y.; Hayato, Y.; Ikeda, M.; Iyogi, K.; Kameda, J.; Kishimoto, Y.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakajima, T.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Orii, A.; Sekiya, H.; Shiozawa, M.; Takeda, A.; Tanaka, H.; Tomura, T.; Wendell, R. A.; Irvine, T.; Kajita, T.; Kametani, I.; Kaneyuki, K.; Nishimura, Y.; Richard, E.; Okumura, K.; Labarga, L.; Fernandez, P.; Gustafson, J.; Kachulis, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Stone, J. L.; Sulak, L. R.; Berkman, S.; Nantais, C. M.; Tanaka, H. A.; Tobayama, S.; Goldhaber, M.; Carminati, G.; Griskevich, N. J.; Kropp, W. R.; Mine, S.; Renshaw, A.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Weatherly, P.; Ganezer, K. S.; Hartfiel, B. L.; Hill, J.; Hong, N.; Kim, J. Y.; Lim, I. T.; Himmel, A.; Li, Z.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Wongjirad, T.; Ishizuka, T.; Tasaka, S.; Jang, J. S.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Smith, S. N.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Ishii, T.; Kobayashi, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Suzuki, A. T.; Takeuchi, Y.; Yano, T.; Hirota, S.; Huang, K.; Ieki, K.; Kikawa, T.; Minamino, A.; Nakaya, T.; Suzuki, K.; Takahashi, S.; Fukuda, Y.; Choi, K.; Itow, Y.; Suzuki, T.; Mijakowski, P.; Frankiewicz, K.; Hignight, J.; Imber, J.; Jung, C. K.; Li, X.; Palomino, J. L.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Ishino, H.; Kayano, T.; Kibayashi, A.; Koshio, Y.; Mori, T.; Sakuda, M.; Kuno, Y.; Tacik, R.; Kim, S. B.; Okazawa, H.; Choi, Y.; Nishijima, K.; Koshiba, M.; Suda, Y.; Totsuka, Y.; Yokoyama, M.; Bronner, C.; Hartz, M.; Martens, K.; Marti, Ll.; Suzuki, Y.; Vagins, M. R.; Martin, J. F.; de Perio, P.; Konaka, A.; Chen, S.; Wilkes, R. J.

PHYSICAL REVIEW D, Vol.93 No.1, p. 012004

Abe, K.; Haga, Y.; Hayato, Y.; Ikeda, M.; Iyogi, K.; Kameda, J.; Kishimoto, Y.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Sekiya, H.; Shiozawa, M.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Tanaka, H.; Tomura, T.; Ueno, K.; Wendell, R. A.; Yokozawa, T.; Irvine, T.; Kajita, T.; Kametani, I.; Kaneyuki, K.; Lee, K. P.; McLachlan, T.; Nishimura, Y.; Richard, E.; Okumura, K.; Labarga, L.; Fernandez, P.; Berkman, S.; Tanaka, H. A.; Tobayama, S.; Gustafson, J.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Stone, J. L.; Sulak, L. R.; Goldhaber, M.; Carminati, G.; Kropp, W. R.; Mine, S.; Weatherly, P.; Renshaw, A.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Ganezer, K. S.; Hartfiel, B. L.; Hill, J.; Keig, W. E.; Hong, N.; Kim, J. Y.; Lim, I. T.; Akiri, T.; Himmel, A.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Wongjirad, T.; Ishizuka, T.; Tasaka, S.; Jang, J. S.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Smith, S. N.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Ishii, T.; Kobayashi, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Suzuki, A. T.; Takeuchi, Y.; Bronner, C.; Hirota, S.; Huang, K.; Ieki, K.; Kikawa, T.; Minamino, A.; Murakami, A.; Nakaya, T.; Suzuki, K.; Takahashi, S.; Tateishi, K.; Fukuda, Y.; Choi, K.; Itow, Y.; Mitsuka, G.; Mijakowski, P.; Hignight, J.; Imber, J.; Jung, C. K.; Yanagisawa, C.; Wilking, M. J.; Ishino, H.; Kibayashi, A.; Koshio, Y.; Mori, T.; Sakuda, M.; Yamaguchi, R.; Yano, T.; Kuno, Y.; Tacik, R.; Kim, S. B.; Okazawa, H.; Choi, Y.; Nishijima, K.; Koshiba, M.; Suda, Y.; Totsuka, Y.; Yokoyama, M.; Martens, K.; Marti, Ll.; Vagins, M. R.; Martin, J. F.; de Perio, P.; Konaka, A.; Chen, S.; Zhang, Y.; Connolly, K.; Wilkes, R. J.

Astroparticle Physics, Vol.81, pp.39-48

Abe, K.; Haga, Y.; Hayato, Y.; Ikeda, M.; Iyogi, K.; Kameda, J.; Kishimoto, Y.; Marti, Ll.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakajima, T.; Nakayama, S.; Orii, A.; Sekiya, H.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Takeda, A.; Tanaka, H.; Takenaga, Y.; Tasaka, S.; Tomura, T.; Ueno, K.; Yokozawa, T.; Akutsu, R.; Irvine, T.; Kaji, H.; Kajita, T.; Kametani, I.; Kaneyuki, K.; Lee, K. P.; Nishimura, Y.; McLachlan, T.; Okumura, K.; Richard, E.; Labarga, L.; Fernandez, P.; Blaszczyk, F. d. M.; Gustafson, J.; Kachulis, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Stone, J. L.; Sulak, L. R.; Berkman, S.; Tobayama, S.; Goldhaber, M.; Bays, K.; Carminati, G.; Griskevich, N. J.; Kropp, W. R.; Mine, S.; Renshaw, A.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Weatherly, P.; Ganezer, K. S.; Hartfiel, B. L.; Hill, J.; Keig, W. E.; Hong, N.; Kim, J. Y.; Lim, I. T.; Park, R. G.; Akiri, T.; Albert, J. B.; Himmel, A.; Li, Z.; O'Sullivan, E.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Wongjirad, T.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Choi, K.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Smith, S. N.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Ishii, T.; Kobayashi, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Nishikawa, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Nakano, Y.; Suzuki, A. T.; Takeuchi, Y.; Yano, T.; Cao, S. V.; Hayashino, T.; Hiraki, T.; Hirota, S.; Huang, K.; Ieki, K.; Jiang, M.; Kikawa, T.; Minamino, A.; Murakami, A.; Nakaya, T.; Patel, N. D.; Suzuki, K.; Takahashi, S.; Wendell, R. A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Mitsuka, G.; Muto, F.; Suzuki, T.; Mijakowski, P.; Frankiewicz, K.; Hignight, J.; Imber, J.; Jung, C. K.; Li, X.; Palomino, J. L.; Santucci, G.; Taylor, I.; Vilela, C.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Fukuda, D.; Ishino, H.; Kayano, T.; Kibayashi, A.; Koshio, Y.; Mori, T.; Sakuda, M.; Takeuchi, J.; Yamaguchi, R.; Kuno, Y.; Tacik, R.; Kim, S. B.; Okazawa, H.; Choi, Y.; Ito, K.; Nishijima, K.; Koshiba, M.; Totsuka, Y.; Suda, Y.; Yokoyama, M.; Bronner, C.; Calland, R. G.; Hartz, M.; Martens, K.; Obayashi, Y.; Suzuki, Y.; Vagins, M. R.; Nantais, C. M.; Martin, J. F.; de Perio, P.; Tanaka, H. A.; Konaka, A.; Chen, S.; Sui, H.; Wan, L.; Yang, Z.; Zhang, H.; Zhang, Y.; Connolly, K.; Dziomba, M.; Wilkes, R. J.

Physical Review D, Vol.94 No.5, p. 052010

Richard, E.; Okumura, K.; Abe, K.; Haga, Y.; Hayato, Y.; Ikeda, M.; Iyogi, K.; Kameda, J.; Kishimoto, Y.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakajima, T.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Orii, A.; Sekiya, H.; Shiozawa, M.; Takeda, A.; Tanaka, H.; Tomura, T.; Wendell, R. A.; Akutsu, R.; Irvine, T.; Kajita, T.; Kaneyuki, K.; Nishimura, Y.; Labarga, L.; Fernandez, P.; Gustafson, J.; Kachulis, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Stone, J. L.; Sulak, L. R.; Berkman, S.; Nantais, C. M.; Tanaka, H. A.; Tobayama, S.; Goldhaber, M.; Kropp, W. R.; Mine, S.; Weatherly, P.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Ganezer, K. S.; Hartfiel, B. L.; Hill, J.; Hong, N.; Kim, J. Y.; Lim, I. T.; Park, R. G.; Himmel, A.; Li, Z.; O'Sullivan, E.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Wongjirad, T.; Ishizuka, T.; Tasaka, S.; Jang, J. S.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Smith, S. N.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Ishii, T.; Kobayashi, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Suzuki, A. T.; Takeuchi, Y.; Yano, T.; Cao, S. V.; Hiraki, T.; Hirota, S.; Huang, K.; Kikawa, T.; Minamino, A.; Nakaya, T.; Suzuki, K.; Fukuda, Y.; Choi, K.; Itow, Y.; Suzuki, T.; Mijakowski, P.; Frankiewicz, K.; Hignight, J.; Imber, J.; Jung, C. K.; Li, X.; Palomino, J. L.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Fukuda, D.; Ishino, H.; Kayano, T.; Kibayashi, A.; Koshio, Y.; Mori, T.; Sakuda, M.; Xu, C.; Kuno, Y.; Tacik, R.; Kim, S. B.; Okazawa, H.; Choi, Y.; Nishijima, K.; Koshiba, M.; Totsuka, Y.; Suda, Y.; Yokoyama, M.; Bronner, C.; Hartz, M.; Martens, K.; Marti, Ll.; Suzuki, Y.; Vagins, M. R.; Martin, J. F.; Konaka, A.; Chen, S.; Zhang, Y.; Wilkes, R. J.

Physical Review D, Vol.94 No.5, p. 052001

Akimov, D.; Albert, J. B.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V; Bernardi, I; Blackston, M. A.; Blokland, L.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Chen, N.; Chernyak, D.; Conley, E.; Cooper, R. L.; Daughhetee, J.; Coello, M. del Valle; Detwiler, J. A.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Fox, W.; Galindo-Uribarri, A.; Rosso, A. Gallo; Green, M. P.; Hansen, K. S.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hughes, M.; Johnson, T.; Kaemingk, M.; Kaufman, L. J.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Librande, J. T.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; McGoldrick, O.; Moreno, H.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S.; Pershey, D.; Radford, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Thornton, R. T.; Tolstukhin, I; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Wiseman, C.; Wongjirad, T.; Yang, J.; Yen, Y-R; Yoo, J.; Yu, C-H; Zettlemoyer, J.

Physical Review Letters, Vol.126 No.1, p. 012002

Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Day, E.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Koros, J.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovstsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Ward, E. M.; Wiseman, C.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -R.; Yoo, J.; Yu, C. -H.; Zettlemoyer, J.

Journal of Instrumentation, Vol.16 No.8, p. P08048

Akimov, D.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Blackston, M. A.; Bock, C.; Bolozdynya, A.; Browning, J.; Cabrera-Palmer, B.; Chernyak, D.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Rosso, A. Gallo; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hoang, D.; Hughes, M.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Melikyan, Y. A.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Salyapongse, A. M.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tolstukhin, I.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Wongjirad, T.; Yen, Y. -r.; Yoo, Jonghee; Yu, C. -h.; Zettlemoyer, J.; COHERENT Collaboration, C. O. H. E. R. E. N. T. Collaboration

Journal of Instrumentation, Vol.17 No.10, p. P10034