Publications
Detailed Information
Determining stress-strain curve for micromaterials by finite-element modeling : : 마이크로 소재의 응력-변형률 곡선 평가 : 레이저 간섭계에 의해 측정된 플립칩 솔더 변형과 나노인덴테이션으로부터 얻어진 박막의 하중-변위 곡선 유한요소해석 모델링
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | 권동일 | - |
dc.contributor.author | 이백우 | - |
dc.date.accessioned | 2009-11-18T02:33:25Z | - |
dc.date.available | 2009-11-18T02:33:25Z | - |
dc.date.copyright | 2004. | - |
dc.date.issued | 2004 | - |
dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000055885 | eng |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/12761 | - |
dc.description | Thesis(doctoral)--서울대학교 대학원 :재료공학부,2004. | eng |
dc.format.extent | xi, 150 leaves | eng |
dc.language.iso | en | eng |
dc.publisher | 서울대학교 대학원 | eng |
dc.subject | 기계적 신뢰성 | eng |
dc.subject | Mechanical reliability | eng |
dc.subject | 마이크로 소재 | eng |
dc.subject | Micromaterials | eng |
dc.subject | 실험적 | eng |
dc.subject | Experimental | eng |
dc.subject | 계산적 하이브리드 방법 | eng |
dc.subject | computational hybrid method | eng |
dc.subject | 응력-변형률 곡선 | eng |
dc.subject | Stress-strain curve | eng |
dc.subject | 유한요소모델링 | eng |
dc.subject | Finite-element modeling (FEM) | eng |
dc.subject | 플립칩 | eng |
dc.subject | Flip-chip | eng |
dc.subject | 레이저 간섭계 | eng |
dc.subject | Electronic speckle pattern interferometry (ESPI) | eng |
dc.subject | 박막 | eng |
dc.subject | Thin film | eng |
dc.subject | 나노인덴테이션 | eng |
dc.subject | Nanoindentation | eng |
dc.subject | 파일업 | eng |
dc.subject | Pile-up | eng |
dc.subject | 싱크인 | eng |
dc.subject | Sink-in | eng |
dc.title | Determining stress-strain curve for micromaterials by finite-element modeling : | eng |
dc.title | Flip-chip solder deformation measured by ESPI and thin film load-depth curve obtained by nanoindentation | eng |
dc.title.alternative | 마이크로 소재의 응력-변형률 곡선 평가 : 레이저 간섭계에 의해 측정된 플립칩 솔더 변형과 나노인덴테이션으로부터 얻어진 박막의 하중-변위 곡선 유한요소해석 모델링 | eng |
dc.type | Thesis | - |
dc.contributor.department | 재료공학부 | - |
dc.description.degree | Doctor | eng |
- Appears in Collections:
- Files in This Item:
- There are no files associated with this item.
Item View & Download Count
Items in S-Space are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.