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반도체 배선용 저유전 물질에서 구리 확산에 대한 전기적, 기계적 특성 평가

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dc.contributor.advisor주영창-
dc.contributor.author이희찬-
dc.date.accessioned2009-11-24T03:24:20Z-
dc.date.available2009-11-24T03:24:20Z-
dc.date.copyright2004.-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.urihttp://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000055758kor
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10371/14340-
dc.description학위논문(석사)--서울대학교 대학원 :재료공학부,2004.kor
dc.format.extentix, 66 장kor
dc.language.isoko-
dc.publisher서울대학교 대학원kor
dc.subject저유전 물질kor
dc.subjectLow-k materialkor
dc.subject구리 확산kor
dc.subjectCu driftkor
dc.subject신뢰성kor
dc.subjectreliabilitykor
dc.subjectTDDBkor
dc.subjectTDDBkor
dc.subjectC-Vkor
dc.subjectC-Vkor
dc.title반도체 배선용 저유전 물질에서 구리 확산에 대한 전기적, 기계적 특성 평가kor
dc.typeThesis-
dc.contributor.department재료공학부-
dc.description.degreeMasterkor
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