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그래픽 프로세싱 유닛을 이용한 TFT-LCD 공정에서의 결함 검사 시스템의 개발 : Development of Defect Inspection System Development of Defect Inspection System
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- Authors
- Advisor
- 박희재
- Major
- 기계항공공학부
- Issue Date
- 2011-02
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 머신 비전 ; 결함 ; GPU ; 고속 푸리에 변환 ; AOI ; Machine Vision ; Defect ; Wavelet ; Fourier Transform
- Description
- 학위논문 (석사)-- 서울대학교 대학원 : 기계항공공학부, 2011.2. 박희재.
- Language
- kor
- URI
- https://hdl.handle.net/10371/157370
http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000029837
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