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Program / erase / retention modeling of nitride-based charge trapping flash memory and its characterization : 질화막 트래핑 플래쉬 메모리의 쓰기 / 지우기 / 유지능력 모델링과 특성 분석에 관한 연구
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 박병국 | - |
| dc.contributor.author | 김두현 | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-10T04:12:10Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-10T04:12:10Z | - |
| dc.date.issued | 2011-08 | - |
| dc.identifier.other | 000000031097 | - |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/158986 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031097 | ko_KR |
| dc.description | 학위논문 (박사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 박병국. | - |
| dc.format.extent | vii, 108장 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | - |
| dc.subject | 전하 | - |
| dc.subject | 트랩 | - |
| dc.subject | 플래시 메모리 | - |
| dc.subject | 쓰기 | - |
| dc.subject | 지우기 | - |
| dc.subject | 유지 능력 | - |
| dc.subject | SONOS | - |
| dc.subject | 모델 | - |
| dc.subject | 시뮬레이션 | - |
| dc.subject | 실리콘 질화막 | - |
| dc.subject | 트랩 밀도 | - |
| dc.subject | charge trap | - |
| dc.subject | flash memory | - |
| dc.subject | program | - |
| dc.subject | erase | - |
| dc.subject | retention | - |
| dc.subject | model | - |
| dc.subject | simulation | - |
| dc.subject | silicon nitride | - |
| dc.subject | trap density | - |
| dc.title | Program / erase / retention modeling of nitride-based charge trapping flash memory and its characterization | - |
| dc.title.alternative | 질화막 트래핑 플래쉬 메모리의 쓰기 / 지우기 / 유지능력 모델링과 특성 분석에 관한 연구 | - |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.type | Dissertation | - |
| dc.description.degree | Doctor | - |
| dc.contributor.affiliation | 전기. 컴퓨터공학부 | - |
| dc.date.awarded | 2011-08 | - |
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