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Electrical Scanning Probe Microscopy on Organic Optoelectronic Structures : 전기 주사 탐침 현미경을 이용한 유기 광전 구조의 분석에 관한 연구
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 윤도영 | - |
| dc.contributor.author | Weber, Stefan | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-10T04:51:24Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-10T04:51:24Z | - |
| dc.date.issued | 2011-02 | - |
| dc.identifier.other | 000000028841 | - |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/159337 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000028841 | ko_KR |
| dc.description | 학위논문 (박사)-- 서울대학교 대학원 : 화학부 고분자화학전공, 2011.2. 윤도영. | - |
| dc.format.extent | xiii, 149 p. | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | - |
| dc.subject | 전도성 SFM | - |
| dc.subject | 켈빈탐침 원자힘현미경 | - |
| dc.subject | Scanning Probe Microscopy | - |
| dc.subject | Kelvin Probe Microscopy | - |
| dc.subject | Conductive Scanning Force Microscopy | - |
| dc.subject | Organic Electronics | - |
| dc.title | Electrical Scanning Probe Microscopy on Organic Optoelectronic Structures | - |
| dc.title.alternative | 전기 주사 탐침 현미경을 이용한 유기 광전 구조의 분석에 관한 연구 | - |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.type | Dissertation | - |
| dc.description.degree | Doctor | - |
| dc.contributor.affiliation | 화학부 고분자화학전공 | - |
| dc.date.awarded | 2011-02 | - |
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