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용액공정을 이용한 산화물 박막트랜지스터의 특성 및 신뢰성에 대한 H₂O의 영향 : Effects of H₂O on electrical characteristics and stability of solution-processed oxide thin-film transistors

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Authors

이용욱

Advisor
한민구
Major
전기. 컴퓨터공학부
Issue Date
2011-08
Publisher
서울대학교 대학원
Keywords
산화물 반도체산화물 박막 트랜지스터용액 공정패시베이션능동형 디스플레이oxide semiconductoroxide thin-film transistorSolution-processpassivationActive-matrix display
Description
학위논문 (석사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 한민구.
Language
kor
URI
https://hdl.handle.net/10371/159625

http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031700
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