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Investigation on the characteristics of stress-induced hump in amorphous HfInZnO thin film transistors : HfInZnO로 구성된 산화물 박막 소자의 Stress로 인한 Hump 특성에 관한 연구
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 박병국 | - |
| dc.contributor.author | 김장현 | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-10T05:24:15Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-10T05:24:15Z | - |
| dc.date.issued | 2011-08 | - |
| dc.identifier.other | 000000031673 | - |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/159649 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031673 | ko_KR |
| dc.description | 학위논문 (석사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 박병국. | - |
| dc.format.extent | 47장 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | - |
| dc.subject | 비정질 HIZO 박막소자 | - |
| dc.subject | hump | - |
| dc.subject | 빛과 음의 전압 스트레스 | - |
| dc.subject | Schottky 장벽 | - |
| dc.subject | 둥글어진 게이트 | - |
| dc.subject | a-HIZO TFTs | - |
| dc.subject | hump characteristics | - |
| dc.subject | light and negative bias stress | - |
| dc.subject | Schottky barrier | - |
| dc.subject | rounded gate | - |
| dc.title | Investigation on the characteristics of stress-induced hump in amorphous HfInZnO thin film transistors | - |
| dc.title.alternative | HfInZnO로 구성된 산화물 박막 소자의 Stress로 인한 Hump 특성에 관한 연구 | - |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.type | Dissertation | - |
| dc.description.degree | Master | - |
| dc.contributor.affiliation | 전기. 컴퓨터공학부 | - |
| dc.date.awarded | 2011-08 | - |
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