Browse

Machine Learning-Based Automatic Generation of eFuse Configuration in NAND Flash Chip
머신 러닝 기반의 낸드 플래시 칩 eFuse 구성 생성 자동화 방법론

Cited 0 time in Web of Science Cited 0 time in Scopus
Authors
김지석
Advisor
유승주
Issue Date
2019-08
Publisher
서울대학교 대학원
Keywords
NAND FlasheFuseOptimizationMachine learningDeep learningVAEGenetic Algorithm
Description
학위논문(석사)--서울대학교 대학원 :공과대학 컴퓨터공학부,2019. 8. 유승주.
Abstract
Post fabrication process is becoming more and more important as memory technology becomes complex, in the bid to satisfy target performance and yield across diverse business domains, such as servers, PCs, automotive, mobiles, and embedded devices, etc. Electronic fuse adjustment (eFuse optimization and trimming) is a traditional method used in the post fabrication processing of memory chips. Engineers adjust eFuse to compensate for wafer inter-chip variations or guarantee the operating characteristics, such as reliability, latency, power consumption, and I/O bandwidth. These require highly skilled expert engineers and yet take significant time. This paper proposes a novel machine learning-based method of automatic eFuse configuration to meet the target NAND flash operating characteristics. The proposed techniques can maximally reduce the expert engineers workload. The techniques consist of two steps: initial eFuse generation and eFuse optimization. In the first step, we apply the variational autoencoder (VAE) method to generate an initial eFuse configuration that will probably satisfy the target characteristics. In the second step, we apply the genetic algorithm (GA), which attempts to improve the initial eFuse configuration and finally achieve the target operating characteristics. We evaluate the proposed techniques with Samsung 64-Stacked vertical NAND (VNAND) in mass production. The automatic eFuse configuration takes only two days to complete the implementation.
메모리 공정 기술이 발전하고 비즈니스 시장이 다양해 짐에 따라 웨이퍼 수율을 높이고 비즈니스 특성 목표를 만족하기 위한 후 공정 과정이 매우 중요해 지고 있다. 전기적 퓨즈 조절 방식(이-퓨즈 최적화 및 트림)은 메모리 칩 후 공정 과정에서 사용되는 전통적인 방식이다. 엔지니어는 이-퓨즈 조절을 통해 웨이퍼 상의 칩들 간의 초기 특성의 변화를 보상하거나, 신뢰성, 레이턴시, 파워 소모, 그리고 I/O 대역폭 등의 칩 목표 특성을 보장한다. 이-퓨즈 조절 업무는 다수의 숙련된 엔지니어가 필요하고 또한 상당히 많은 시간을 소모한다. 본 논문에서는 낸드 플래시 칩의 동작 특성 목표를 얻기 위한 기계 학습 기반의 이-퓨즈 자동 생성 기술을 제안하고, 해당 기술은 엔지니어의 작업시간을 획기적으로 단축시킬 수 있다. 논문의 기술은 두 단계로 구성 된다. 첫 번째 단계에서는 variational autoencoder (VAE) 기술을 적용하여 목표하는 동작 특성을 만족시키는 초기 이-퓨즈 구성을 생성한다. 두 번째 단계에서는 유전 알고리즘을 적용하여 초기 생성된 이-퓨즈 구성에 대하여 목표하는 성능 특성과의 정합성을 추가로 개선하여 최종적으로 목표하는 성능 특성을 얻는다. 논문의 평가는 실제 양산중인 삼성 64단 브이낸드 제품을 이용하여 진행하였다. 논문의 이-퓨즈 자동화 생성 기술은 2일 이내의 구현 시간만이 소요된다.
Language
eng
URI
https://hdl.handle.net/10371/161076

http://dcollection.snu.ac.kr/common/orgView/000000156535
Files in This Item:
Appears in Collections:
College of Engineering/Engineering Practice School (공과대학/대학원)Dept. of Computer Science and Engineering (컴퓨터공학부)Theses (Master's Degree_컴퓨터공학부)
  • mendeley

Items in S-Space are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Browse