Instability mechanism of amorphous IGZO Thin Film Transistors under electrical and optical stress

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Instability mechanism of amorphous IGZO Thin Film Transistors under electrical and optical stress : 비정질 IGZO 박막 트랜지스터의 전기·광학적 안정성에 대한 매커니즘에 관한 연구

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	홍용택	-
dc.contributor.author	조준희	-
dc.date.accessioned	2010-01-26T06:11:04Z	-
dc.date.available	2010-01-26T06:11:04Z	-
dc.date.copyright	2009.	-
dc.date.issued	2009	-
dc.identifier.uri	http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000038767	eng
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/10371/44653	-
dc.description	Thesis(masters) --서울대학교 대학원 :전기. 컴퓨터공학부,2009.8.	en
dc.format.extent	43 leaves	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	서울대학교 대학원	en
dc.subject	비안정성 메커니즘	en
dc.subject	instability	en
dc.subject	비정질 IGZO	en
dc.subject	a-IGZO TFT	en
dc.subject	박막 트랜지스터	en
dc.subject	bias stress	en
dc.subject	전압 스트레스	en
dc.subject	optical stress	en
dc.subject	빛 스트레스	en
dc.title	Instability mechanism of amorphous IGZO Thin Film Transistors under electrical and optical stress	en
dc.title.alternative	비정질 IGZO 박막 트랜지스터의 전기·광학적 안정성에 대한 매커니즘에 관한 연구	en
dc.type	Thesis	-
dc.contributor.department	전기. 컴퓨터공학부	-
dc.description.degree	Master	en

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