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Profilometry without phase unwrapping using multi-frequency and four-step phase-shift sinusoidal fringe projection : 다중 공간 주파수 및 위상 이동 패턴 투사를 이용한 프로파일로메트리

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dc.contributor.advisor이병호-
dc.contributor.author김은희-
dc.date.accessioned2010-01-26T06:11:53Z-
dc.date.available2010-01-26T06:11:53Z-
dc.date.copyright2009.-
dc.date.issued2009-
dc.identifier.urihttp://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000038749eng
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10371/44671-
dc.descriptionThesis(masters) --서울대학교 대학원 :전기. 컴퓨터공학부,2009.8.en
dc.format.extentviii, 47 leavesen
dc.language.isoenen
dc.publisher서울대학교 대학원en
dc.subject3차원 프로파일로메트리en
dc.subjectThree-dimensional profilometryen
dc.subject공간 다중 주파수en
dc.subjectphase-shifting methoden
dc.subject위상 이동en
dc.subjectmulti-frequencyen
dc.subject3차원 물체 깊이 추출en
dc.subjectsinusoidal fringeen
dc.subjectdepth extractionen
dc.titleProfilometry without phase unwrapping using multi-frequency and four-step phase-shift sinusoidal fringe projectionen
dc.title.alternative다중 공간 주파수 및 위상 이동 패턴 투사를 이용한 프로파일로메트리en
dc.typeThesis-
dc.contributor.department전기. 컴퓨터공학부-
dc.description.degreeMasteren
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