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(A)Study on device reliability related with tunneling enhanced current for DRAM cell and SONOS transistors : 디램 셀과 소노스 소자에서 턴넬링 전류 증가와 관련한 소자 신뢰성에 대한 연구
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- Authors
- Advisor
- 박영준
- Issue Date
- 2005
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 소자 축소화 ; Device scaling ; 디램 ; DRAM ; 데이터 보유시간 ; data retention time distribution ; 전하포획에 의한 턴넬링 전류 ; trap-assisted tunneling ; 소노스 ; SONOS ; 게이트 전송 ; gate conduction ; 소자 열화 ; device degradation
- Description
- Thesis(doctoral)--서울대학교 대학원 :전기·컴퓨터공학부,2005.
- Language
- English
- URI
- http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000050129
https://hdl.handle.net/10371/45430
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