Publications
Detailed Information
컴퓨터 비젼을 이용한 웨이퍼 표면 결함 검사 기술의 개발
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 박희재 | - |
| dc.contributor.author | 박지열 | - |
| dc.date.accessioned | 2010-01-27T15:25:26Z | - |
| dc.date.available | 2010-01-27T15:25:26Z | - |
| dc.date.copyright | 2003. | - |
| dc.date.issued | 2003 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000057220 | kog |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/45754 | - |
| dc.description | 학위논문(석사)--서울대학교 대학원 :기계항공공학부,2003. | ko |
| dc.format.extent | v, 37 장 | ko |
| dc.language.iso | ko | ko |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | ko |
| dc.subject | 웨이퍼 표면 결함 | ko |
| dc.subject | Wafer Defects | ko |
| dc.subject | 캐드 기반 검사 | ko |
| dc.subject | CAD Based Inspection | ko |
| dc.subject | 자동 검사 계획 | ko |
| dc.subject | Automated Inspection Planning | ko |
| dc.subject | 최적 검사 경로 | ko |
| dc.subject | Computer Vision | ko |
| dc.subject | 컴퓨터 비젼 | ko |
| dc.subject | Edge Detection | ko |
| dc.subject | 경계 추출 | ko |
| dc.subject | Region Identification | ko |
| dc.subject | 영역 식별 | ko |
| dc.title | 컴퓨터 비젼을 이용한 웨이퍼 표면 결함 검사 기술의 개발 | ko |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.contributor.department | 기계항공공학부 | - |
| dc.description.degree | Master | ko |
- Appears in Collections:
- Files in This Item:
- There are no files associated with this item.
Item View & Download Count
Items in S-Space are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.