Publications
Detailed Information
Nanoscale SONOS nonvolatile memory devices based on sidewall patterning technique : 측벽 패터닝 기법을 이용한 나노스케일 SONOS 비휘발성 메모리 제작 및 특성에 관한 연구
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | 박병국 | - |
dc.contributor.author | 성석강 | - |
dc.date.accessioned | 2010-01-27T23:12:56Z | - |
dc.date.available | 2010-01-27T23:12:56Z | - |
dc.date.copyright | 2004. | - |
dc.date.issued | 2004 | - |
dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000055064 | eng |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/45824 | - |
dc.description | Thesis (doctoral)--서울대학교 대학원 :전기·컴퓨터공학부,2004. | en |
dc.format.extent | iv, 124 p. | en |
dc.language.iso | en | en |
dc.publisher | 서울대학교 대학원 | en |
dc.subject | SONOS | en |
dc.subject | Sonos | en |
dc.subject | 측벽 패터닝 | en |
dc.subject | Sidewall patterning | en |
dc.subject | 식각 선택비 | en |
dc.subject | Etch selectivity | en |
dc.subject | 균일도 | en |
dc.subject | Uniformity | en |
dc.subject | 30 nm | en |
dc.subject | 30 nm | en |
dc.subject | 전하 보존 | en |
dc.subject | Retention | en |
dc.subject | 내구성 | en |
dc.subject | Endurance | en |
dc.subject | 채널 핫 전자 주입 | en |
dc.subject | Che injection | en |
dc.subject | F-N 터널링 | en |
dc.subject | F-n tunneling | en |
dc.subject | 홀 주입 | en |
dc.subject | Hole injection | en |
dc.subject | 트랩 밀도 | en |
dc.subject | Trap density | en |
dc.subject | silicon-rich | en |
dc.subject | Silicon-rich | en |
dc.title | Nanoscale SONOS nonvolatile memory devices based on sidewall patterning technique | en |
dc.title.alternative | 측벽 패터닝 기법을 이용한 나노스케일 SONOS 비휘발성 메모리 제작 및 특성에 관한 연구 | en |
dc.type | Thesis | - |
dc.contributor.department | 전기·컴퓨터공학부 | - |
dc.description.degree | Doctor | en |
- Appears in Collections:
- Files in This Item:
- There are no files associated with this item.
Item View & Download Count
Items in S-Space are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.