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Artifacts and near-field enhancement in apertureless near-field optical microscopy : 비 구경 근접장 광학 현미경에서 비 광학적 이미지와 근접장에 관한 연구
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 제원호 | - |
| dc.contributor.author | 안준모 | - |
| dc.date.accessioned | 2010-01-28T09:15:19Z | - |
| dc.date.available | 2010-01-28T09:15:19Z | - |
| dc.date.copyright | 2007. | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000044993 | eng |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/46382 | - |
| dc.description | Thesis(doctor`s)--서울대학교 대학원 :물리학부,2007. | en |
| dc.format.extent | xi, 111 leaves | en |
| dc.language.iso | en | en |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | en |
| dc.subject | 비구경 | en |
| dc.subject | apertureless | en |
| dc.subject | 산란 | en |
| dc.subject | scattering-type | en |
| dc.subject | 근접장 광학 현미경 | en |
| dc.subject | scanning near-field optical microscopy | en |
| dc.subject | 원자 현미경 | en |
| dc.subject | atomic force microscopy | en |
| dc.subject | 가공의 신호 (비 광학적 신호) | en |
| dc.subject | artifacts | en |
| dc.title | Artifacts and near-field enhancement in apertureless near-field optical microscopy | en |
| dc.title.alternative | 비 구경 근접장 광학 현미경에서 비 광학적 이미지와 근접장에 관한 연구 | en |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.contributor.department | 물리학부 | - |
| dc.description.degree | Doctor | en |
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