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인간의 인지 능력에 기반한 LCD 영역형 얼룩의 불량 수준 측정
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 유석인 | - |
| dc.contributor.author | 이원희 | - |
| dc.date.accessioned | 2010-02-05 | - |
| dc.date.available | 2010-02-05 | - |
| dc.date.copyright | 2007. | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000043942 | kog |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/50119 | - |
| dc.description | 학위논문(석사) --서울대학교 대학원 :전기. 컴퓨터공학부,2007. | ko |
| dc.format.extent | 34 장 | ko |
| dc.language.iso | ko | ko |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | ko |
| dc.subject | TFT-LCD | ko |
| dc.subject | TFT-LCD | ko |
| dc.subject | MURA | ko |
| dc.subject | MURA | ko |
| dc.subject | 수치화 | ko |
| dc.subject | Quantification | ko |
| dc.subject | 비전 | ko |
| dc.subject | Vision | ko |
| dc.subject | 검사 | ko |
| dc.subject | Inspection | ko |
| dc.subject | 불량 | ko |
| dc.subject | Defect | ko |
| dc.subject | JND | ko |
| dc.subject | JND | ko |
| dc.subject | 영역형 얼룩 | ko |
| dc.title | 인간의 인지 능력에 기반한 LCD 영역형 얼룩의 불량 수준 측정 | ko |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.contributor.department | 전기. 컴퓨터공학부 | - |
| dc.description.degree | Master | ko |
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