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알루미늄계 박막배선의 electromigration 유도 미세파손 수명에 미차는 열응력 효과 분석
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 권동일 | - |
| dc.contributor.author | 이세호 | - |
| dc.date.accessioned | 2010-02-08T07:54:32Z | - |
| dc.date.available | 2010-02-08T07:54:32Z | - |
| dc.date.copyright | 1998. | - |
| dc.date.issued | 1998 | - |
| dc.identifier.uri | http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000075524 | kog |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10371/52287 | - |
| dc.description | 학위논문(석사)--서울대학교 대학원 :금속공학과,1998. | ko |
| dc.format.extent | 54 장 | ko |
| dc.language.iso | ko | ko |
| dc.publisher | 서울대학교 대학원 | ko |
| dc.title | 알루미늄계 박막배선의 electromigration 유도 미세파손 수명에 미차는 열응력 효과 분석 | ko |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.contributor.department | 금속공학과 | - |
| dc.description.degree | Master | ko |
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