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Issue Date	Title / Author(s) / Citation	File	Altmetrics
2017-11	Ranking process parameter association with low yield wafers using spec-out event network analysis Yang, Jiwon; Lee, Seungkyung; Kang, Seokho; Cho, Sungzoon; Lee, Younghak; Park, Haesang Computers and Industrial Engineering, Vol.113, pp.419-424	DOI
2017-11	중국의 군사안보 — 시진핑 시기 중국군 개혁의 평가와 함의 이영학 세계정치, Vol.27(중국의 부상과 국내정치적 취약성), pp. 101-140	view file