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Program / erase / retention modeling of nitride-based charge trapping flash memory and its characterization : 질화막 트래핑 플래쉬 메모리의 쓰기 / 지우기 / 유지능력 모델링과 특성 분석에 관한 연구
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- Authors
- Advisor
- 박병국
- Major
- 전기. 컴퓨터공학부
- Issue Date
- 2011-08
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 전하 ; 트랩 ; 플래시 메모리 ; 쓰기 ; 지우기 ; 유지 능력 ; SONOS ; 모델 ; 시뮬레이션 ; 실리콘 질화막 ; 트랩 밀도 ; charge trap ; flash memory ; program ; erase ; retention ; model ; simulation ; silicon nitride ; trap density
- Description
- 학위논문 (박사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 박병국.
- Language
- eng
- URI
- https://hdl.handle.net/10371/158986
http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031097
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