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College of Engineering/Engineering Practice School (공과대학/대학원)
Dept. of Electrical and Computer Engineering (전기·정보공학부)
Theses (Ph.D. / Sc.D._전기·정보공학부)
Characterization and optimization of charge trapping behaviors for non-volatile memory (NVM) device
비휘발성 메모리에 적용되는 전하 트래핑 거동의 특성 측정 및 최적화 연구
- Authors
- 이동화
- Advisor
- 박병국
- Major
- 전기. 컴퓨터공학부
- Issue Date
- 2011-08
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- SONOS 플래시 메모리; ONO 층 두께; ONO 캡; 전하 트래핑 거동; 터널 장벽; 전하 저장막; 성능 최적화; 프로그램; 지우기 특성; 메모리 윈도우; 전하 유지 특성; SONOS flash memory; ONO multilayer capacitor; charge trapping behaviors; modulated tunnel barrier; modulated charge storage layer; performance optimization; program; erase characteristics; memory window; data retention
- Description
- 학위논문 (박사)-- 서울대학교 대학원 : 전기. 컴퓨터공학부, 2011.8. 박병국.
- Language
- eng
- URI
- http://hdl.handle.net/10371/159064
http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000031088
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