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Instability mechanism of amorphous IGZO Thin Film Transistors under electrical and optical stress : 비정질 IGZO 박막 트랜지스터의 전기·광학적 안정성에 대한 매커니즘에 관한 연구
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- Authors
- Advisor
- 홍용택
- Issue Date
- 2009
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 비안정성 메커니즘 ; instability ; 비정질 IGZO ; a-IGZO TFT ; 박막 트랜지스터 ; bias stress ; 전압 스트레스 ; optical stress ; 빛 스트레스
- Description
- Thesis(masters) --서울대학교 대학원 :전기. 컴퓨터공학부,2009.8.
- Language
- English
- URI
- http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000038767
https://hdl.handle.net/10371/44653
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