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인간의 인지 능력에 기반한 LCD 영역형 얼룩의 불량 수준 측정
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- Authors
- Advisor
- 유석인
- Issue Date
- 2007
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- TFT-LCD ; TFT-LCD ; MURA ; MURA ; 수치화 ; Quantification ; 비전 ; Vision ; 검사 ; Inspection ; 불량 ; Defect ; JND ; JND ; 영역형 얼룩
- Description
- 학위논문(석사) --서울대학교 대학원 :전기. 컴퓨터공학부,2007.
- Language
- Korean
- URI
- http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000043942
https://hdl.handle.net/10371/50119
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