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Deep-submicron 반도체 공정에서 안정된 데이터 유지 전압을 지원하는 파워게이팅 구조 : (A)Power gating structure to stabilize data-retention voltage in deep-submicron CMOS technology
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- Authors
- Advisor
- 김수환
- Issue Date
- 2007
- Publisher
- 서울대학교 대학원
- Keywords
- 파워게이팅 ; Power gating ; 데이터 유지 전압 ; Low power ; 슬립 트랜지스터 ; Sleep Transistor ; 나노미터 ; Leakage current ; 저전력 ; Data-retention voltage ; 그라운드 바운스 노이즈. ; Ground-bounce noise.
- Description
- 학위논문(석사)--서울대학교 대학원 :전기·컴퓨터공학부,2007.
- Language
- Korean
- URI
- http://dcollection.snu.ac.kr:80/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000045810
https://hdl.handle.net/10371/53513
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