패리티 공간 기법을 활용한 관성센서의 곱형 고장 검출

Abstract

고장이란 일반적인 상태의 시스템에서 나타나는 허용되지 않는 시스템 파라미터 혹은 특성의 변화를 의미하며, 대표적으로 시스템 성분(component), 센서 그리고 구동기의 고장으로 나눌 수 있다. 특히 신뢰성 있는 센서 신호의 경우 시스템 모델 및 구동기의 고장을 판단하는 기준이 되기 때문에 센서의 고장 여부 및 고장검출 성능은 전체 시스템의 고장 검출 성능을 결정하는 중요한 역할을 한다. 센서의 고장은 일반적으로 바이어스(bias) 형태의 합형(additive) 고장을 고려하지만 실제로 곱형(multiplicative) 형태의 고장 또한 발생이 가능하다. 따라서 본 논문에서는 관성센서에서 발생 가능한 곱형 고장을 분석하고 이를 모델링하여 고려하였다.